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一种片式电阻用抗银迁移银导体浆料及其制备方法 发明申请

2022-05-31 4030 365K 0

专利信息

申请日期 2024-11-29 申请号 CN202210245536.4
公开(公告)号 CN114360762A 公开(公告)日 2022-04-15
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 西安拓库米电子科技有限公司
简介 本发明公开了一种片式电阻用抗银迁移银导体浆料及其制备方法,银导体浆料的重量百分比组成为:微米级球状银粉40wt%~60wt%,亚微米级球状银粉15wt%~35wt%,铋类玻璃粉2.5wt%~4wt%,稀土类玻璃粉2wt%~3wt%,有机载体18wt%~20wt%。本发明采用亚微米级球状银粉适当降低了银粉的烧结温度,增强了银层烧结后导电特性,采用低软化点的重金属铋类玻璃粉提高了银层与基板之间的结合力,保证了片式电阻的长期可靠性,同时采用高软化点的稀土类玻璃粉钝化表面银层,提高了整体银层的抗银迁移效果。


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