客服热线:18202992950

一种高精度半导体用3D打印式负性光刻胶的制备方法 发明授权

2022-05-31 1790 432K 0

专利信息

申请日期 2024-11-26 申请号 CN201910172291.5
公开(公告)号 CN109782537B 公开(公告)日 2022-05-20
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中山职业技术学院
简介 本发明公开了一种高精度半导体用3D打印式负性光刻胶的制备方法,采用稀土物质、硅源、可溶性镁盐、可溶性铝盐等,通过高温水热反应制得改性硅酸镁铝;然后将其参与丙烯酸酯单体、交联单体的聚合反应,制得改性丙烯酸树脂低聚物;再利用改性硅酸镁铝制备改性硫醇溶液;最后将改性丙烯酸树脂低聚物、改性硫醇溶液、光引发剂及其它助剂混合分散均匀,即可。本发明制得的光刻胶属于非化学放大类,其在193nm深紫外光源下迅速聚合,感光性能强,灵敏度好,分辨率达到0.09~0.11μm,光刻综合性能达到国际最先进水平,应用前景极为光明。


您还没有登录,请登录后查看下载地址


反对 0举报 0 收藏 0 打赏 0评论 0
下载排行
网站首页  |  关于我们  |  联系方式  |  使用协议  |  版权隐私  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  网站留言  |  RSS订阅  |  违规举报