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金属有机化学气相沉积生长GaN基发光晶体膜的方法 发明授权

2022-07-27 2440 274K 0

专利信息

申请日期 2024-11-27 申请号 CN201010017134.6
公开(公告)号 CN101736400B 公开(公告)日 2012-02-29
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
简介 本发明揭示了一种金属有机化学气相沉积生长GaN基发光晶体膜的方法,其特征在于:在所述GaN晶体膜的原料配方中按比例掺入三甲基硼或三甲基铝,在牛长过程中所述硼或铝以三价离子的形式进入GaN晶格,调配稀土离子和Ga3+之间的离子半径差;所述原料配方摩尔比例为:Ga(CH3)3∶稀土有机配合物∶A(CH3)3=(1-x-y)∶x∶y,其中稀土有机配合物是指以稀土元素Re为核心的Re(TMHD)3或Re(i-PrCp)3,A表示III族元素硼或铝,0.1%≤x≤10.0%,0.1x≤y≤x。本发明由于采用了III族元素硼或铝的有机配合物和稀土有机配合物按一定配比进行共掺,从而能在很大程度上改善因为Re3+和Ga3+之间较大的半径失配而造成的GaN晶体膜晶格畸变,进而提高GaN晶体膜的发光性能。


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