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金属氧化物半导体薄膜、薄膜晶体管、制备方法及装置 发明申请

2022-07-12 1380 926K 0

专利信息

申请日期 2024-11-28 申请号 CN201510379122.0
公开(公告)号 CN105118854A 公开(公告)日 2015-12-02
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 京东方科技集团股份有限公司; 华南理工大学
简介 本发明公开了一种金属氧化物半导体薄膜、薄膜晶体管、制备方法及装置,属于平板显示领域。所述金属氧化物半导体薄膜的成分为金属氧化物;所述金属氧化物包括第一金属元素、第二金属元素和第三金属元素;所述第一金属元素为钪元素、钇元素、稀土元素、铝元素和铟元素中的至少一者;所述第二金属元素为钙元素、锶元素和钡元素中的至少一者;所述第三金属元素为钛元素和锡元素中的至少一者。本发明能够提高薄膜晶体管的迁移率。


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