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用於制程环上之基於稀土金属氧化物的薄膜涂层之离子辅助沉积 发明授权

2022-07-07 2740 2652K 0

专利信息

申请日期 2024-11-29 申请号 TW103124575
公开(公告)号 TWI625809B 公开(公告)日 2018-06-01
公开国别 TW 申请人省市代码 全国
申请人 应用材料股份有限公司
简介 一種製造物品的方法包括為蝕刻反應器提供一環。隨後進行離子輔助沉積(IAD)以在該環的至少一個表面上沉積保護層,其中該保護層為抗電漿稀土金屬氧化物膜,該膜具有小於300微米的厚度及小於6微英吋的平均表面粗糙度。


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