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一种C轴对称结晶氧化物半导体薄膜的制备方法和应用 发明申请

2022-06-06 2320 724K 0

专利信息

申请日期 2025-02-26 申请号 CN201711102694.X
公开(公告)号 CN107916398A 公开(公告)日 2018-04-17
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 北京大学
简介 本发明公开了一种C轴对称结晶氧化物半导体薄膜的制备方法和应用。该方法采用溅射技术生长具有良好CAAC结构的无铟元素的氧化物半导体薄膜。采用本发明制备方法制备的CAAC结构的稀土元素掺杂的氧化锌铝(RE‑AZO)薄膜材料中锌元素、铝元素和稀土元素的摩尔百分比含量为:锌元素85%‑98%,铝元素1%‑10%,稀土元素1%‑14%,稀土元素为Gd、Lu、Y和Sc中的至少一种。采用本发明制备的薄膜材料作为有源层的TFT可用于柔性显示等需要低温制备工艺的应用。


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