申请日期 | 2025-02-26 | 申请号 | CN201711102694.X |
公开(公告)号 | CN107916398A | 公开(公告)日 | 2018-04-17 |
公开国别 | CN | 申请人省市代码 | 全国 |
申请人 | 北京大学 | ||
简介 | 本发明公开了一种C轴对称结晶氧化物半导体薄膜的制备方法和应用。该方法采用溅射技术生长具有良好CAAC结构的无铟元素的氧化物半导体薄膜。采用本发明制备方法制备的CAAC结构的稀土元素掺杂的氧化锌铝(RE‑AZO)薄膜材料中锌元素、铝元素和稀土元素的摩尔百分比含量为:锌元素85%‑98%,铝元素1%‑10%,稀土元素1%‑14%,稀土元素为Gd、Lu、Y和Sc中的至少一种。采用本发明制备的薄膜材料作为有源层的TFT可用于柔性显示等需要低温制备工艺的应用。 |
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