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一种基于全光纤结构的光纤包层吸收谱检测装置和方法 发明申请

2022-06-06 4770 427K 0

专利信息

申请日期 2025-02-27 申请号 CN201711275943.5
公开(公告)号 CN107976302A 公开(公告)日 2018-05-01
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
简介 本发明公开了一种基于全光纤结构的光纤包层吸收谱检测装置和方法,包括超连续谱光源、第一连接光纤、待测稀土掺杂光纤和第二连接光纤、光谱仪, 超连续谱光源输出的宽带单模激光通过第一连接光纤耦合到包层模式后,经过待测稀土掺杂的光纤后再导入到光谱仪中,基于截断法比较截断前后的光谱获得稀土掺杂光纤的包层吸收谱。本发明的检测装置和方法基于全光纤结构,装置结构稳定可靠,方法简单高效,可以广泛应用于双包层以及多包层光纤的包层吸收谱测试,并且具有应用于包层吸收谱测试设备的开发和集成的潜力。


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