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METHOD FOR MANUFACTURING METAL OXIDE FILM FOR GATE PART OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND FIELD EFFECT 发明申请

2022-07-31 2340 39K 0

专利信息

申请日期 2024-11-17 申请号 JP2003080929
公开(公告)号 JP2004288986A 公开(公告)日 2004-10-14
公开国别 JP 申请人省市代码 全国
申请人 NIPPON OXYGEN CO LTD
简介 PROBLEM TO BE SOLVED : To provide a method for manufacturing a thin fil which is not corrosive and has a dielectric constant and insulation performance suitable as the gate part of an FET (field effect transistor). SOLUTION : With rare earth or aluminum β-diketonate metal complex as raw material, a thermal decomposition chemical gas phase precipitation equipment 1 forms a metal oxide film for the gate part of the FET on a substrate by a thermal decomposition chemical gas phase precipitation method.


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